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聚焦離子束掃描電子顯微鏡 詳細摘要: 蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM結合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)出色的成像和分析性能,和新一代聚焦離子束(FIB)優(yōu)異的加工性能
產(chǎn)品型號: 所在地:常州市 更新時間:2024-01-17 參考價: 面議 在線留言 -
蔡司高速掃描電子顯微鏡M 詳細摘要: 蔡司開啟電子顯微鏡速度的革新時代借助MultiSEM顯微鏡,您可以充分運用91條并行電子束的采集速度
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